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12.03.2018

Einführung in die modernen Methoden der Gefügeanalyse für Ingenieure und Techniker

Termin:

12.03.2018 00:00 bis 15.03.2018 00:00

Veranstaltungsort:

Campus der Universität des Saarlandes

Material Engineering Center Saarland

Gebäude D3 3

Saarbrücken
Saarland
Deutschland

Zielgruppe:

Wissenschaftler

Wirtschaftsvertreter

 

Kontakt:

fortbildung@dgm.de

Kategorie:

Seminar / Workshop / Diskussion

 

Übersicht:

Diese Weiterbildung richtet sich an alle Anwender der Gefügeanalyse in Qualitätskontrolle und Werkstoffentwicklung. Alle methodischen Grundlagen der Gefügeanalyse werden erarbeitet und praxisorientiert vermittelt.

 

Beschreibung:

Diese Weiterbildung richtet sich an alle Anwender der Gefügeanalyse in Qualitätskontrolle und Werkstoffentwicklung. Vorausgesetzt werden Grundkenntnisse der Werkstoffkunde. Alle methodischen Grundlagen der Gefügeanalyse werden erarbeitet und praxisorientiert vermittelt. Bekanntlich bestimmt das Gefüge, d.h. die Mikro- und Nanostruktur und die auftretenden Defekte, die Eigenschaften eines Werkstoffes. Daher liegt für alle Hersteller und Verarbeiter der Hauptfokus auf der Steuerung und Qualitätskontrolle der Gefügeausbildung eines Werkstoffes in immer engeren Toleranzgrenzen. Die quantitative Gefügeanalyse ist dafür als Kontrollinstrument unverzichtbar. Neben dem Routineeinsatz der Lichtmikroskopie ist eine entscheidende Entwicklung auf diesem Gebiet die Kombination der etablierten Kontraste der Rasterelektronenmikroskopie (REM) mit dem fokussierten Ionenstrahl (FIB). Diese ermöglicht eine extrem sensitive Analyse bei gleichzeitig genauer Zielpräparation.

 

Die Weiterbildung beginnt mit einer kurzen Einführung in die Grundlagen der digitalen Bildanalyse in 2D und deren sinnvolle Übertragung in 3D-Informationen. Behandelt wird das REM und TEM mit allen relevanten Kontrastverfahren sowie die FIB-Technik. Die Gefügetomographie zur chemischen und strukturellen 3DAnalyse in Mikro-, Nano- und atomaren Dimensionen, wie Serienschnitte und REM/FIB-Tomographie sowie die Atomsondentomographie werden praxisorientiert und am Gerät verdeutlicht.

Abgerundet wird die Weiterbildung durch Vorträge von Experten zu den Möglichkeiten der angrenzenden Techniken wie Nano-SIMS und Röntgen-ComputerTomographie.

 

Zusatztag praktische Einführung:

Für Teilnehmer, die keinerlei Erfahrung am Elektronenmikroskopie und Focused Ion Beam haben, bieten wir am 12.03.2017 eine praktische Einführung am Mikroskop an.

Vermittelt wird der allgemeine Umgang und Basiswissen zur Arbeit am Elektronen-/Ionenmikroskop.

 

Zusatztag individuelle Probenberatung und -Untersuchung:

Gerne können eigene Proben mitgebracht und als optionaler Teil des Seminars am dritten Tag mit Experten-Unterstützung am REM/FIB untersucht werden.

 

Das Fortbildungsseminar steht unter der fachlichen Leitung von:

Univ. Prof. Dr.-Ing. Frank Mücklich

Lehrstuhl für Funktionswerkstoffe an der Universität des Saarlandes sowie Leiter des Material Engineering Center Saarland (MECS) in Saarbrücken

 

Weitere Dozenten sind:

Dr.-Ing. F. Soldera, Dr.-Ing. M. Marx, Dipl.-Ing. M. Engstler, Dipl.-Ing. C. Pauly, Dipl.-Ing. D. Britz, M.Sc. J. Barrirero, M.Sc. J. Webel,

Fachrichtung Materialwissenschaft und Werkstofftechnik, Universität des Saarlandes,

Saarbrücken

Dr.-Ing. M. Maisl, Fraunhofer Institut für Zerstörungsfreie Prüfverfahren, Saarbrücken,

Dr. T. Wirtz, Luxemburg Institute of Science and Technology, Luxemburg

 

Hinweise zur Teilnahme:

 

 

Weitere Informationen: